Подходит для проверки толщины и удельного сопротивления таких материалов, как полупроводниковые кремниевые пластины, пластины карбида кремния, пластины нитрида галлия, сапфировая подложка, оксид калия, чип арсенида галлия, нитрид алюминия, чипы танталата лития, ниобата лития и др.
Copyright © 2025 ZHENGZHOU HENUO MACHINERY CO., LTD.