Mesure automatique de l'épaisseur des plaquettes

• Convient aux tests d'épaisseur et de résistivité de matériaux tels que les plaquettes de silicium semi-conducteur, les plaquettes de carbure de silicium, les plaquettes de nitrure de gallium, les substrats de saphir, l'oxyde de potassium, les puces d'arséniure de gallium, le nitrure d'aluminium, les puces de tantalate de lithium et de niobate de lithium, etc.

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