Adecuado para pruebas de espesor y resistividad de materiales como obleas semiconductoras de silicio, obleas de carburo de silicio, obleas de nitruro de galio, sustrato de zafiro, óxido de potasio, chip de arseniuro de galio, nitruro de aluminio, chips de tantalato de litio y niobato de litio, etc.
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