Pruebas de postprocesamiento de alta precisión para materiales como: obleas de silicio semiconductor, carburo de silicio, nitruro de galio, arseniuro de galio, sustrato de gema azul, tantalato de litio, chip de niobato de litio, material óptico de alta precisión, cerámica, circonio, materiales magnéticos, cristales de cuarzo, etc.
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